電子萬能試驗(yàn)機(jī)需要設(shè)計(jì)改進(jìn)的地方
作者 Kaikai
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發(fā)布時(shí)間 14/03/06
電子萬能試驗(yàn)機(jī)也很多有需要改進(jìn)的地方，其真正能于設(shè)計(jì)生產(chǎn)，質(zhì)量即可幫助產(chǎn)品預(yù)期看不到的缺點(diǎn)顯示，需要再加以改進(jìn)。 1)電子萬能試驗(yàn)機(jī)設(shè)計(jì)時(shí)，可分析破環(huán)點(diǎn)、易不良點(diǎn) 2)質(zhì)量時(shí)，可分析每一批閃所產(chǎn)生的不同易不良點(diǎn) 3)電子萬能試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)時(shí)，可完全一邊振動(dòng)一邊測(cè)量，更使產(chǎn)品不良率早發(fā)現(xiàn) 4)耐久測(cè)量，讓產(chǎn)品耐久使用、使不耐久的組件提早改進(jìn)，公司品牌口碑即會(huì)更好。 |